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    介質損耗測試儀/介電常數介質損耗測試儀

    型 號GDAT-C

    更新時間2024-11-19

    廠商性質生產廠家

    報價

    產品描述:介質損耗測試儀/介電常數介質損耗測試儀滿足標準:GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內)下電容率和介質損耗因數的推薦方法

    產品概述


    介質損耗測試儀/介電常數介質損耗測試儀滿足標準:GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內)下電容率和介質損耗因數的推薦方法
    一、介質損耗測試儀/介電常數介質損耗測試儀概述

    GDAT高頻 Q 表作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器,測試頻率上限達到目前高的160MHz。


    GDAT高頻 Q 表采用了多項技術:

    A雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。 B雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數字按鍵輸入。 C雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧,數碼化電容調諧。 D自動化測量技術 -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。 E全參數液晶顯示 – 數字顯示主調電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。 FDDS 數字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真,頻率的高精確、幅度的高穩定。 G計算機自動修正技術和測試回路*化 —使測試回路 殘余電感減至zui低, Q 讀數值在不同頻率時要加以修正的困惑。 
    gdat高頻Q表的創新設計,無疑為高頻元器件的阻抗測量提供了*的解決方案,它給從事高頻電子設計的工程師、科研人員、高校實驗室和電子制造業提供了更為方便的檢測工具
    ,測量值更為精確,測量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點調諧電容值下檢測器件的品質,無須關注量程和換算單位。 
    一、概述
    介質損耗和介電常數是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷,還有復合材料等的一項重要的物理性質,通過測定介質損耗角正切tanδ及介電常數(ε),可進一步了解影響介質損耗和介電常數的各種因素,為提高材料的性能提供依據;
     
     

     

     

    主要技術特性  

    Q 值測量范圍  2 ~ 1023 
    量程分檔 30 、 100 、 300 、 1000 ,自動換檔或手動換檔 
    固有誤差  

    ≤ 5 % ± 滿度值的 2 %( 200kHz ~ 10MHz ) 

    ≤6% ± 滿度值的2%(10MHz~160MHz)

    工作誤差

     ≤7% ± 滿度值的2% ( 200kHz ~ 10MHz )

     ≤8% ± 滿度值的2%(10MHz~160MHz) 

    電感測量范圍4.5nH ~ 140mH  
    電容直接測量范圍 1 ~ 200pF 
    主電容調節范圍 18 ~ 220pF  
    主電容調節準確度

    100pF 以下 ± 1pF

    100pF 以上 ± 1 %

    信號源頻率覆蓋范圍 100kHz ~ 160MHz  
    頻率分段 ( 虛擬 ) 100 ~ 999.999kHz , 1 ~ 9.99999MHz,10 ~ 99.9999MHz , 100 ~ 160MHz

    搭配了全新的介質損耗裝置與GDAT系列q表搭配使用

     

    電感:
     
    線圈號    測試頻率    Q值    分布電容p       電感值  
      9         100KHz      98       9.4           25mH
      8         400KHz     138       11.4        4.87mH
      7         400KHz    202       16           0.99mH
      6           1MHz     196       13          252μH
      5           2MHz     198       8.7        49.8μH
      4         4.5MHz    231       7             10μH 
      3          12MHz      193     6.9         2.49μH
      2          12MHz      229     6.4        0.508μH             
      1   25MHz,50MHz   233,211    0.9       0.125μH

     

    BD916介質損耗測試裝置技術特性 

    平板電容器: 極片尺寸:Φ50mm/Φ38mm 可選  
    極片間距可調范圍:≥15mm 
    2. 夾具插頭間距:25mm±0.01mm 
    3. 夾具損耗正切值≤4×10-4 (1MHz) 
    4.測微桿分辨率:0.001mm
     
     


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    GDAT-A介質損耗測試儀/介電常數測試儀 

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    BDH 耐漏電起痕試驗儀

    BDH-B耐電弧試驗儀

     

       中國檢測行業與驗證服務的*者和智領者,幫助眾多檢測質檢單位和學校教研單位提供一站式的全面質量解決方案。

                      北京北廣精儀儀器設備有限公司    www.beiguangjy.com

     

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